高光譜分辨率； 實(shí)時(shí)測(cè)量并觀察反射、透射、輻射度（選項(xiàng)）光譜曲線； 可以實(shí)時(shí)顯示絕對(duì)反射比（需要定標(biāo)的白板數(shù)據(jù)）； 高信噪比，高可靠性，高重復(fù)性；

AXXIS® XEA 320源于AXXIS® XEA 300，與AXXIS® XEA 300的區(qū)別是多了可調(diào)的微動(dòng)樣品臺(tái)。配備了最先進(jìn)的SDD半導(dǎo)體探測(cè)器，能分析從納（Na）到鈾（U）之間的任何元素。

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直讀光譜儀ARL3460是世界上應(yīng)用最廣泛的火花直讀光譜儀，最適用于日常生產(chǎn)控制，質(zhì)量管理和特殊分析研究。

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