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此款光澤度儀是參照國際標準ISO 2813和中國國家標準GB/T9754設計制造的光澤度測量儀器.

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三維表面形貌儀的工作原理

可以測量硅、鍺單晶（棒料、晶片）電阻率、測定硅外延層、擴散層和離子注入層的方塊電阻以及測量導電玻璃（ITO）和其它導電薄膜的方塊電阻

材料表面反光度測量儀光澤度計

深圳供應Simco-Ion 表面電阻測量儀（日本） ST-4

Simco-Ion ST-4 表面電阻測量儀（日本）

FJ1210型α β γ表面污染測量儀射線巡檢儀FJ1210型α、β、γ表面污染測量儀是一款便攜式放射性測量儀表，主要用于放射性表面污染測量，可同時對α、β、γ射線進行測量。