东西仪（北京）科技有限公司
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概述 手持式四探针测试仪是运用四探针测量原理的多用途综合测量装置，它可以测量片状、块状半导体材料的电阻率，扩散层的薄层电阻（亦称方块电阻）。也可测柔性导电薄膜和玻璃等硬基底上导电膜的方块电阻（简称方阻），换上四端子测试夹具，还可对电阻器体电阻、金属导体的低、中值电阻以及开关类接触电阻进行测量。 本测试仪可赠设电池供电，适合手持式变动场合操作！ 仪器所有参数设定、功能转换全部采用一旋钮输入；具有零位、满度自校功能；自动转换量程；测试探头采用高耐磨碳化钨探针制成，故定位准确、游移率小、寿命长；测试结果由数字表头直接显示。 三、基本技术参数 1.测量范围、分辨率 电 阻： 1.0×10-2～ 2000Ω, 分辨率0.1×10-3～ 0.1×10Ω 电 阻 率： 1.0×10-2～ 200 Ω-cm 分辨率0.1×10-2～ 0.1Ω-cm 方块电阻： 1.0×10-1～ 2000Ω/□ 分辨率1.0×10-1～ 0.1×10Ω/□ 2.可测半导体材料尺寸 直 径： 测试台直接测试方式 Φ15～130mm，其他方式不限. 长（或高）度： 测试台直接测试方式 H≤160mm, 其他方式不限. 3.量程划分及误差等X
4)适配器工作电源：220V±10％, f=50Hz±4％,PW≤5W，或锂电池供电 5)外形尺寸：W×H×L=18cm×7.5cm×13cm 净 重：≤0.5kg 四、详情请登陆苏州晶格电子有限公司官方网站 查看《M-2数字式四探针测试仪技术使用说明书》 五、相关推荐： 现在M2型四探针测试仪已经升X为M3型，测试功能更完善，测试范围更宽，精度更高，详情请看以下链接： 《M-3手持式四探针测试仪技术简介》 | |||||||||||||||||
