上海同倍检测科技有限公司
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美国GEX声波探头SEK2C简介
主要特性：
•X立的发射器和接收器单元
•纵波垂直扫描
•小焦距探头具有非常好的近场分辨率
•由于可研磨的塑料延迟线，即使在粗糙或弯曲的表面也有好的耦合性
•延迟线由一个金属环保护以防磨损
•特别适合于聚焦区域内剩余壁厚的测量
•加上特殊的延迟线（特殊产品）适合于在热的表面上的测量
主要应用：
通常：近表面的小缺陷的探测和评估。聚焦区域内较大缺陷以及平行于表面分布的缺陷的扫描。剩余壁厚的测量（即使在提高温度的情况下）。
SEB..和SEB..0°系列探头：棒材、坯块、轴、杆等的中心缺陷的探测的标准探头。经常用作在中等和大尺寸物体（如锻造或铸造的物体）中的限定的缺陷预期区域内进行小缺陷的探测（如气孔、微孔和热裂缝）。更适合于用作与物体平行的平面上有缺陷区域的X范围确定（如层状结构缺陷、渣孔以及厚钢板中的分隔线）。
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