
产品介绍: | 系密度称量两用电子分析天平,它采用精密电子分析天平利用阿基米德定律,可对任何形状不规则的固体物质同时进行重量和比重的分析测量,适用于工矿企业,科研机构,大专院校实验室作质量比重的测量与分析。 |
产品特点: | ◆上皿式、密度称量两用 |
技术参数: |
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名称 | 规格 | 包装 | 备注 | 销售价(元) |
TEP-500电子密度分析天平 | X大称量:500g 分度值:10mg | 1 | ◆上皿式、密度称量两用 | 5200.00 |
TEP-300电子密度分析天平 | X大称量:300g 分度值:1mg | 1 | ◆上皿式、密度称量两用 | 5900.00 |
TEP-200电子密度分析天平 | X大称量:200g 分度值:1mg | 1 | ◆上皿式、密度称量两用 | 5500.00 |
TEP-30电子密度分析天平 | X大称量:30g/300g 分度值:1mg/10mg | 1 | ◆上皿式、密度称量两用 | 4900.00 |
AEL-200A电子密度分析天平 | X大称量:200g 分度值:0.1mg | 1 | ◆上皿式、密度称量两用 | 11800.00 |